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什么是高低温环境测试?高低温试验箱适用于做哪些试验?

kaikai 2024-6-11 10:06:05

高低温测试旨在评估产品在极端温度条件(包括高温和低温)下储存、运输及使用的适应性和可靠性。该测试的严苛程度由所设定的高温或低温的具体温度值以及产品暴露在这些极端温度下的持续时间所决定。由于大多数产品都需要在特定的温度范围内进行存储或工作运行,因此,这种测试显得尤为重要。特别是在那些温度波动较大,时而高温时而低温的环境中,产品的适应性和稳定性更是需要通过高低温测试来验证。
高低温循环测试
一般来讲的话都是天的倍数,常见的就是72H,96H。要求不一样,时间不一样,有更少或是更高的。
高低温环境测试标准
GB_T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
GBT 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
IEC 60068-2-2 基本环境试验规程 第2-2部分:试验 试验B:干热
IEC 60068-2-1:2007电工电子产品环境试验:低温
应用范围
电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、车辆、医药、塑胶、金属、化学、建材等行业产品。
高低温试验箱主要能够展开以下项目试验
高温试验
目的:用来查核试验样品在高温条件下储存或运用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下作业的仪器、设备等。
试验设备:高低温(湿热)试验箱
试验条件:一般选定恒定的温度应力和保持时间
优选常用温度
200℃,175℃,155℃,125℃,100℃,85℃,70℃,55℃等;
优选常用的试验时刻有:2h,16h,72h,96h等。
低温试验
目的:用来查核实验样品在低温条件下储存或运用的适应性。常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的挑选试验等。
试验设备:高低温(湿热)试验箱
试验条件:一般选定稳定的温度和试验时刻
优选常用的温度有:
-65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃,+5℃等;
优选常用的试验时刻有:2h,16h,72h,96h等。
快速变温试验
目的:快速变温是具有规则温度改变率的温度改变,往往模仿昼夜温差较大的区域环境,也可用于寿数试验,评价元器件或产品的外观、机械功能和电气功能。
测试设备:快速变温试验箱
测试条件:
1)温度改变规模的高低温值;
2)试样在高低温下的保留时刻;
3)从低温到高温或在高温文低温之间的温度改变率;
4)条件测试周期数。
温度冲击试验
目的:用于评价产品对环境温度快速改变的适应性。热冲击试验的意图与温度循环试验的意图根本相同,但热冲击试验的条件比温度循环试验的条件严苛得多。
测试设备:两箱冷热冲击试验箱和三箱冷热冲击试验箱
测试条件:
1)温度改变规模的高低温值;
2)试样在高低温下的保留时刻;
3)从低温到高温或从高温到低温改变时刻;
4)条件测试周期数。
稳定温湿度试验
目的:查核产品在湿热条件下运用和储存的适应性,观察试验样品在稳定温度、无凝露、规则时刻高湿环境下的影响,以加快方法评价实验样品耐湿热劣化的效应。
试验设备:恒温恒湿试验箱
试验条件:试验温度;试验湿度;试验时刻
优选常用的温度/湿度有:
40℃,85%;40℃,93%;85℃,85%等;
优选常用的试验时刻有:48h,96h等。
温湿度循环试验
目的:适用于确定试验样品在温度循环改变、外表发生凝露的湿热条件下运用和储存的适应性。
试验设备:高低温(湿热)试验箱
试验条件:选定温度、湿度、循环次数、温度改变率、持续时刻
金鉴实验室
金鉴实验室是LED领域中技术能力最全面、知名度最高的第三方检测机构之一,围绕高质量LED产品的诞生,从外延片生产、芯片制作、器件封装到LED驱动电源、灯具等产品应用环节,从LED原材料、研发和生产工艺角度,为客户提供以失效分析为核心,以材料表征、参数测试、可靠性验证、来料检验和工艺管控为辅的一站式LED行业解决方案。

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