2.微观结构分析FIB 技术在微观结构分析方面具有独特的优势。它可以对样品进行纵面结构分析,无需额外准备样品,直接在原位对样品的内部结构进行观察和分析。这种能力使得研究人员能够快速获取样品的内部信息,例如材料的晶粒形状、大小以及界面结构等。例如,在材料科学研究中,通过 FIB 技术可以精确判定晶粒的形状和大小,为研究材料的微观结构与宏观性能之间的关系提供详细的数据支持。金鉴实验室的 FIB 设备配备了高分辨率的成像系统,能够提供清晰、详细的微观结构图像,为材料性能评估和研发提供有力的数据支持。此外,FIB技术还可以用于电压对比分析,通过检测金属(如 Via 或 Contact)的电位状态,判断其是否处于浮空(floating)状态,从而为电路性能评估提供有力支持。
3.透射电子显微镜(TEM)样品制备在材料分析领域,FIB 技术还被广泛应用于透射电子显微镜(TEM)样品的制备。传统的 TEM 样品制备方法往往需要大量的时间和经验,且对操作人员的技能要求较高。而 FIB 技术可以精确地从样品中制备出厚度仅为几十纳米的超薄样品,大大降低了对人员经验的依赖,提高了样品制备的效率和质量。通过金鉴实验室FIB制备的 TEM 样品能够提供更清晰、更准确的微观结构信息,为材料的微观分析提供了更有力的工具。