EBSD 技术在 WC 粉末晶粒度测量上的应用
粒度分布是衡量 WC 颗粒均匀度的重要指标，也是粉体重要的物性特征指数。EBSD 技术是利用晶体学信息的方法，在样品表面构建各晶粒的取向图， 空间分辨率可达数十纳米，能够自动标定晶界，统计晶粒度大小，数据客观真实。因此，相比于传统的粒度检测技术， EBSD技术可以通过对 WC 晶粒的取向检测， 从而实现对WC 粉的晶粒度及粒度分布进行统计， 并做到检测结果的可视化。通过研究将 EBSD 技术应用在不同规格 WC 粉的平均晶粒度统计及晶粒度的粒度分布统计上。 1 # 、2 # 、3 # 和 4 # 样品的（a）剖面图和 (b)EBSD 取向图 在 EBSD 取向图中，不同的颜色直观表征检测区域内各个 WC 晶粒的不同取向关系，颜色相差越近，表示相邻 WC 晶粒之间欧拉角[/url]越小。在EBSD 剖面图中可以看到其实是由多个晶粒构成， 表明 WC 颗粒通常是由数个 WC晶粒构成，而并非单颗粒。 EBSD 晶界图 WC 粉末的晶界图，图中灰色相为WC 硬质相，线条为相邻WC 晶粒之间的晶界，通过对晶粒间欧拉角度差值的统计， 可以将晶粒从团粒中甄别出来。 目前常用的粒度分析方法是激光粒度分析、X射线衍射（XRD)、扫描电镜法（ SEM ）、费氏粒度法（ [color=var(--weui-LINK)][url=]Fsss[/url] ）、氮吸附法（ BET ）等。
粒度分析法对比
EBSD 与激光粒度法的对比通过数据EBSD与激光粒度分析数据对比，粒度均小于激光粒度分析，原因可能是由于样品制备方法。激光粒度法统计的是WC“颗粒度”而非“晶粒度”，其中可能包括单晶颗粒、多晶颗粒和团粒，而 EBSD 测试的是 WC 的“晶粒度”，即单晶颗粒，因此所得到粒度结果会更细。EBSD 与 XRD 法的对比EBSD与XRD数据结果相一致，说明EBSD在粒度分析上的可行性。EBSD具有的优势为：①EBSD 技术不但实现了平均晶粒度的检测，还进一步实现了 XRD 所不能实现的晶粒粒度分布的检测，这对使用 XRD 法评价粉体晶粒度起到了一个重要补充的作用；②由于 XRD 无法实现结果的可视化，因此对晶粒粒度的结果并无一个直观的认识，而EBSD 检测结果的可视化， 使研究人员对晶粒的形貌、存在形式、团聚状态等方面的认识更加直观。EBSD 与SEM的对比截线法是目前基于图像分析的最常规的一种粒度检测方法。截线法无法从晶粒中甄别出单晶颗粒，所以数据结果大于 EBSD 所测结果。EBSD 技术，可以从 WC 颗粒中分辨出 WC 晶粒，检测结果更加客观真实，并实现检测结果的可视化，从而实现 WC 粉体从“颗粒度”到“晶粒度”。利用 EBSD 技术除了可以获得 WC 粉末的平均晶粒粒度和晶粒粒度分布外，还可以获得 WC颗粒内部的不同晶粒的不同取向，实现对 WC 晶粒的数字化表征。
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