氩离子抛光制样，让你的材料样品内部结构真实展现

探索材料的微观世界，电子显微镜扮演着不可或缺的角色。它能够揭示材料样品内部的精细结构，是科研实验中分析组织形貌和结构特征的关键技术。要想通过电子显微镜获得清晰的图像，关键在于样品的制备。

扫描电镜（SEM）样品制备
1. 块状样品

低倍率观察：使用导电胶带固定。

高倍率观察：使用液体导电胶固定。

2. 粉末样品：

直接固定在导电胶带或液体导电胶上，要注意导电胶带的剥离纸放置方向，以及液体导电胶的干燥程度。

3. 截面样品

硅片或玻璃：使用玻璃刀切割。

薄膜类样品：液氮粹断。

先进制样技术
氩离子切割：使用宽离子束切割样品，获得精确的分析区域。


氩离子抛光：去除样品表面损伤层，提高成像质量。

金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构，在氩离子抛光制样方面拥有丰富的经验和卓越的技术实力。实验室配备了先进的测试设备和严格的质量控制流程，能够为客户提供高标准的氩离子抛光制样服务。



透射电镜（TEM）样品制备
1. 样品要求


透明：电子束能穿透样品。

厚度：一般小于100nm，高分辨电镜样品小于10nm。

牢固：能承受电子束轰击。

导电性：非导电样品需喷薄炭膜。

2. 载网与支持膜

载网：多孔金属片，通常由铜制成。

支持膜：非晶质薄膜，厚约20nm，透明且不与样品反应。


支持膜分类

1. 无孔碳支持膜：提高导电性，适用于大多数样品。

2. 纯碳支持膜：适合有机溶剂或高温处理的样品。

3. 超薄碳支持膜：适合观察10nm以下的样品。

4. 有孔（微栅）支持膜：提高图像衬度，适合管状、棒状样品。

5. 非碳材料支持膜：如纯方华膜、镀金支持膜、氮化硅薄膜窗格。

载网正反面识别
通过对比载网边缘与中间区域的亮度来区分。制备高质量的样品是电子显微镜分析的关键步骤，正确的样品制备方法可以显著提高实验结果的准确性和可靠性。希望这些整理的方法能对实验人员有所帮助，以便获得满意的实验结果。