摘要
结合聚焦离子束（FIB）技术和扫描电子显微镜（SEM）的FIB-SEM双束系统，通过整合气体注入系统、纳米操控器、多种探测器以及可控样品台等附件，已发展成为一个能够进行微观区域成像、加工、分析和操控的综合分析工具。该系统的应用已经从半导体行业扩展到材料科学、生命科学和地质学等多个领域。金鉴实验室，作为行业内的领先检测机构，凭借先进的设备和专业的团队，为客户提供卓越的 FIB - SEM 双束技术检测服务。
本文带你了解FIB-SEM双束系统中的核心概念和基础原理，了解其在材料科学中的典型应用案例，如透射电子显微镜（TEM）样品的制备、微纳尺度力学测试样品的制备以及材料的三维成像和分析。
历史背景
1978年，美国加州休斯研究所开发了世界上第一台以液态金属镓（Ga）离子为发射源的聚焦离子束（FIB）系统。1988年，首台FIB-SEM双束系统成功面世，20世纪90年代，商业化的双束系统开始普及。
随着技术的发展，FIB-SEM双束系统不断集成新型探测器、微纳操控器和测试装置，成为功能强大的综合分析与表征设备，其应用范围也从半导体行业扩展到更广泛的领域。金鉴实验室的专业团队不断探索和优化FIB-SEM双束系统的性能，以满足客户日益增长的分析需求。
系统构成与原理
FIB-SEM双束系统由离子源、离子光学柱、束描画系统、信号采集系统和样品台五部分构成。离子源在顶端产生带正电的离子，通过静电透镜和偏转装置实现对样品的可控扫描。样品加工通过加速离子轰击样品实现，产生的二次电子和离子由探测器收集用于成像。为保证离子束不受气体分子影响，样品腔和离子束镜筒需在高真空条件下工作。金鉴实验室作为国内领先的光电半导体失效分析科研检测机构，不仅拥有先进的设备，还具备一支经验丰富的技术团队。他们在材料微观截面截取与观察方面具有独特的优势，能够为客户提供精准、详细的材料微观结构信息，助力材料研究的进一步发展。
典型 ＦＩＢ-ＳＥＭ 双束设备示意图 液态金属镓离子源的实物照片
应用领域
为了方便大家对材料进行深入的失效分析及研究，金鉴实验室具备Dual Beam FIB-SEM业务，包括透射电镜( TEM)样品制备，材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析等。
1. TEM样品制备：利用FIB-SEM双束系统在感兴趣的样品区域内制备高质量的TEM样品，包括非提取法和提取法两种方式。金鉴实验室利用FIB-SEM双束系统为客户制备高质量的TEM样品，确保样品的完整性和分析结果的准确性。
ａ. Ｈ 形减薄样品的侧视照片 ｂ. Ｈ 形减薄样品的俯视照片 2. 微纳尺度力学性能测试样品制备：FIB用于加工各种几何形状的力学测试样品，以实现对微纳尺度材料力学性能的高精度测量。
ａ. 微拉伸示意图 ｂ， ｃ. 拉伸试样 ｄ. 透射电镜中进行拉伸试验 3. 材料三维成像和分析：通过FIB逐层切割和SEM成像交替进行，结合软件三维重构，实现对材料结构、形貌及成分等信息的表征。
聚焦离子束的三种工作模式 ａ. 成像 ｂ. 加工；ｃ. 沉积
结论
FIB-SEM双束系统作为一种先进的分析工具，在材料科学、生命科学和地质学等领域展现出广泛的应用潜力。通过不断优化和集成新技术，该系统在提升材料分析精度和效率方面发挥着重要作用。在未来，金鉴实验室将继续深耕 FIB - SEM 双束技术检测服务领域，不断拓展技术应用范围，提升服务质量，为更多行业的发展贡献自己的力量。
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