什么是雷击浪涌测试？

浪涌电流的定义

浪涌电流是指电路在开启瞬间吸收的最大电流，通常出现在输入波形的几个周期内。其值远高于电路的稳态电流，这种高电流可能会对设备造成损坏，甚至触发断路器。浪涌电流常见于所有包含磁芯的设备中，例如变压器、工业电压设备等。金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构，提供雷击抗扰度检测服务，包括灯具和电源雷击抗扰度检测、雷击浪涌电路评估与整改方案制定，以及现场整改测试。

浪涌的产生原因

金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构，致力于为客户提供高质量的测试服务，金鉴实验室工程师认为导致浪涌产生的主要原因有两个，一是电力系统开关瞬态，二是雷电瞬态。具体可以细分为：
1.电力系统开关瞬态
1）主要的电力系统切换骚扰，例如电容器组的切换，电容瞬间放电或者充电；
2）配电系统中较小的局部开关动作或者负载变化；
3）与开关器件有关的谐振现象；导致电压出现振荡波形；
4）各种的系统故障，例如设备组合对接地系统的短路和电弧故障。
2.雷电瞬态
1）直接雷，它击于外部（户外）电路，注入的大电流流过接地电阻或外部电路阻抗而产生电压；
2）间接雷（即云层之间或者云层中的雷击或击于附近物体的雷击产生的电磁场），他在建筑物内、外导体上产生感应电压和电流；
3）附近直接对地放电的雷电电流，当他耦合到设备组合接地系统的公共接地路径时产生感应电压；
4）雷电保护装置动作时，电压和电流可能迅速变化，并可能耦合到内部电路。

雷击/浪涌测试的目的

金鉴实验室工程师指出，GB/T 17626.5-2008 / IEC 6100-4-5：2005两个标准规定了设备由开关和雷电瞬变过电压引起的单极性浪涌（冲击）的抗扰度要求，本部分的目的是建立一个共同的基准，以评价电气和电子设备在遭受浪涌（冲击）时的性能。本部分规定的试验方法用来评定设备或系统对规定现象的抗扰度。金鉴实验室不仅能够提供标准的测试服务，还能根据客户需求，提供定制化的测试方案，帮助客户优化产品设计，提升产品竞争力。

金鉴案例

导致LED死灯的原因有很多种，除了灯珠自身质量缺陷、外部环境之外，还有驱动电源缺陷。驱动电源缺陷很难分析，因为电源缺陷（尤其是开关瞬间或雷击导致的浪涌电流）造成LED死灯之后，LED电源往往没有明显异常。出现这类失效现象时，为失效买单的往往是LED灯珠生产厂家，有的时候真是“哑巴吃黄连，有苦说不出”，而罪魁祸首LED电源厂家确可以逍遥法外。
金鉴实验室经过长时间的实验验证以及对LED电源电路设计分析，我们对失效品进行表征分析后可以有效判定是否是LED电源缺陷导致LED死灯。
某知名LED灯具客户送测一款户外照明灯，表示出现了批量死灯的情况，该客户诉说这批灯具涉及的货量金额都比较大，如果找不出具体原因，一是责任不清，无法交代，还有后面的生产线都得停工整顿，急需委托金鉴实验室查明具体失效原因。



金鉴工程师仔细检查该批失效灯具，发现LED灯珠死灯失效和IC击穿失效，而且失效位置较固定。通过多种分析方法和雷击测试验证性试验结合，金鉴实验室确定雷击会导致灯具出现死灯失效。

金鉴工程师随机取差模雷击和共模雷击测试失效品进行表面观察，均可观察到失效品胶面烧毁发黑现象。

对差模雷击和共模雷击测试失效品分别进行物理开封后在SEM下观察，差模雷击测试失效品金道、外延层以及芯片桥接处烧毁；共模雷击测试失效品P电极、金道、外延层以及芯片桥接处均烧毁。



综上，雷击浪涌测试失效现象与委托单位送测失效品失效现象基本一致。
金鉴实验室在灯具可靠性测试方面有丰富的经验及雄厚的实力，为国内众多灯具厂提供LED可靠性试验及其试验后的失效分析和技术咨询。金鉴实验室拥有专业的团队、技术与积累的行业经验，能够准确快速的找到可靠性测试或者认证测试后灯具失效的原因。通过失效分析确定LED的失效机制,在生产工艺以及应用层面进行研究改善，提高LED灯具的可靠性。

金鉴实验室拥有CNAS、CMA资质，是国家认可LED材料表征与失效分析公共技术服务平台，拥有全套可靠性测试设备，包括雷击浪涌设备，可协助客户验证原材料、方案设计、生产工艺等需求。