FIB制作TEM样品

kaikai · 2022-7-27 16:31:14

金鉴实验室双束FIB承接TEM制样，达到Electron transparent厚度，收样第二天即可出样！

样品制备是TEM分析技术中非常重要的一环，但由于电子束的穿透力很弱，因此用于TEM的样品必须制备成厚度约为0.1μm的超薄切片。要将样品切割成如此薄的切片，许多情况下需要用到FIB(Focus Ion Beam，聚焦离子束) 进行TEM样品的制备。

博上 · 2022-8-1 09:44:34

擎宇温 · 2022-8-3 09:53:29

期待中......

上海庐冠计算机 · 2022-8-5 10:02:24

碉堡了!

123458039 · 2022-8-5 10:16:02

支持！！！！！！

真好210 · 2022-8-5 10:29:40

感谢您的无私精神...

我就是但丁徊 · 2022-8-5 10:39:11

学习一下！十分感谢

卢云i · 2022-8-5 10:48:42

赞一个!

潘金麟 · 2022-8-5 10:53:27

支持！！！！！！

宁郎 · 2022-8-5 10:58:12

学习一下！十分感谢

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