二极管高压蒸煮试验后(AC)芯片出现损伤是什么原因

强绝商爸摇 · 2022-8-2 17:13:27

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各位大侠帮忙解释一下。200V二极管做高压蒸煮试验前测试pass，试验持续24H后，测试有管子VB穿通，开盖发现芯片损伤。正常情况下，高压蒸煮试验是检测器件的抗湿气能力，但是出现芯片损伤，这是什么原因。请有经验的大侠指教。

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我很烈害 · 2022-8-4 01:57:04

支持你们一下下哈

李墨285 · 2022-8-5 10:40:41

前来围观，LZ好样的！

xiongjiuhe101 · 2022-8-6 01:24:07

抢楼了，前排第一次啊

粘瓜莱 · 2022-8-6 16:07:32

藕是来打酱油滴...

厕层柴 · 2022-8-7 15:51:03

学习了！！！！

梦想606 · 2022-8-8 15:34:34

不错哦喜欢嘿嘿

甜言疯语 · 2022-8-8 20:10:48

太赞了

湛青1 · 2022-8-8 20:14:39

不错

网路游民甲厝 · 2022-8-8 21:35:51

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