|
粒度分布是评估WC（碳化钨）粉末均匀度和物性特征的重要参数，对材料的性能有直接影响。EBSD（电子背散射衍射）技术作为一种先进的晶体学分析方法，能够提供关于WC晶粒取向和粒度分布的详细信息。 以上是样品的（a）剖面图和 (b)EBSD 取向图 EBSD技术原理
金鉴作为国内领先的光电半导体检测实验室，金鉴实验室的EBSD技术，以其高效的速度和精准的分辨率，在材料表征领域中展现出卓越的性能，为材料科学研究提供了强有力的工具。EBSD技术通过分析样品表面的电子背散射衍射模式，构建出晶粒的取向图，具有数十纳米级别的空间分辨率。这项技术能够自动标定晶界，统计晶粒大小，提供客观真实的数据，并实现检测结果的可视化。EBSD技术的应用
与传统的粒度检测技术相比，EBSD技术通过检测WC晶粒的取向，实现对WC粉末晶粒度及粒度分布的统计。EBSD技术的应用包括但不限于：
- 统计不同规格WC粉末的平均晶粒度。
- 分析晶粒度的分布情况。
EBSD技术的优势
直观性：EBSD取向图中不同的颜色代表不同晶粒的取向，颜色差异越小表示晶粒间的取向关系越接近。
细节揭示：EBSD剖面图揭示WC颗粒由多个晶粒构成，而非单一晶体。
晶界分析：EBSD晶界图清晰显示WC硬质相和晶界，有助于从团粒中甄别出单个晶粒。
常用粒度分析方法
- 激光粒度分析
- X射线衍射（XRD）
- 扫描电镜法（SEM）
- 费氏粒度法（Fsss）
- 氮吸附法（BET）
粒度分析法对比
EBSD与激光粒度法：EBSD得到的粒度结果更细，因为它测量的是WC的“晶粒度”，而激光粒度法可能包括单晶、多晶和团粒。
EBSD与XRD：EBSD与XRD结果一致，但EBSD能提供晶粒度分布的检测，并且结果可视化，补充了XRD的不足。
EBSD与SEM：EBSD技术能从WC颗粒中分辨出单晶粒，提供更客观真实的检测结果，并实现结果的可视化。
结论
EBSD技术为WC粉末的晶粒度分析提供了一种高效、精确且直观的方法。它不仅能测量平均晶粒度，还能分析晶粒度分布，为材料科学和工程领域提供了宝贵的数据支持。通过EBSD技术，研究人员能够深入理解WC粉末的微观结构，优化材料的性能和应用。
| 
