聚焦离子束技术的历史发展

聚焦离子束（FIB）技术的演变与应用

聚焦离子束（FIB）技术已经成为现代科技领域中不可或缺的一部分，尤其是在半导体制造和微纳加工领域。尽管FIB技术已经广为人知，但其背后的历史和发展历程却鲜为人知。
FIB技术的起源

FIB技术的历史可以追溯到20世纪60年代，当时科学家们开始探索使用离子束对样品进行分析和加工的可能性。在随后的几十年里，这项技术经历了从实验室原型到实际应用产品的转变。FIB技术的发展是一个跨学科创新的典范，它依赖于离子源技术、聚焦光学系统以及计算机控制系统的不断优化。
离子源的发展

在FIB技术的发展过程中，高亮度离子源的发展成为关键。早期的气体离子源和液态金属离子源（LMIS）为FIB技术的发展奠定了基础。1974年，Seliger和Fleming首次使用气体离子源进行无掩模注入掺杂和抗蚀曝光，这一技术的潜力得到了明确证实。随后，Orloff和Swanson开发了气体场离子源，尽管其分辨率高，但由于需要低温而未能在工业中得到广泛应用。液态金属离子源因其高离子亮度和易于操作的特点而更为成功，为现代基于Ga LMIS的FIB系统的发展奠定了基础。
FIB技术的应用

FIB技术的应用领域非常广泛，包括注入、铣削、表面化学、光刻、材料微区分析和扫描离子显微镜等。1987年，J. Melngailis发表了一篇关于FIB应用的详细综述，指出了FIB技术在多个领域的潜力。
FIB仪器的市场导向发展

FIB技术在半导体工业的应用显示出巨大潜力，推动了用于研究和工业应用的仪器设备的发展。许多重要的贡献是在与大学实验室密切相关的私营公司中完成的。在1990年代，这些公司经历了显著的增长，引入了新型的工业和研究设备。参与这一领域研究和开发的公司包括FEI、JEOL、Orsay-Physics等。金鉴实验室与多家高校和企业合作，提供专业的测试与分析服务。
结论

FIB技术的发展历史约有半个多世纪，从最初的离子簇推进实验到现代LMIS源、离子柱设计的分辨率持续提高，以及在双束机器中离子束与电子束的结合，FIB的应用领域已大幅扩展，成为纳米技术的主要领域之一。