聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称 FIB)技术作为一种前沿的纳米级加工与分析手段。它巧妙地融合了离子束技术与扫描电子显微镜(SEM)技术的优势,凭借其独特的原理、广泛的应用场景以及显著的优势,成为现代科学研究与工业生产中不可或缺的重要工具。金鉴实验室作为一家提供检测、鉴定、认证和研发服务的第三方检测与分析机构,提供专业的FIB相关测试服务,帮助客户在材料研发和生产过程中实现更高的精度和效率。聚焦离子束技术的核心是液态金属离子源。液态金属离子源由一个半径为2~5μm的钨尖组成,钨尖被尖端上方加热融化的液态金属储层浸湿。